薄膜厚度测量仪：使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。

主动式防震台水平自动调节功能即使负载重心偏离中心，自动的水平调节功能也可以让心偏回来，继续为仪器提供一个稳定的使用环境。

电阻率测量仪R50提供接触式四点探针（4PP）和非接触式涡流（EC）测量。电动X-Y载物台可额外使用定制样品架，样品测量可达300mm的，可测量面积可达200mm。

薄膜厚度测量仪-膜厚仪：Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。

Herz主动式减震系统平台为电子显微镜和类似的大型研究仪器提供的主动隔振性能(从0.5Hz开始)。UT-1000A平台通过消除，干扰测量的破坏性低频振动噪声，帮助用户从显微镜中获得更多信息。

F54薄膜厚度测量仪的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米，可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线性图案模式,或自行建立无数量限制之测量点.只需具备基本电脑技能，就可在数分钟内自行建立配方。